קמטק (נאסד”ק ובורסת תל אביב: CAMT), ספקית פתרונות בדיקה אוטומטיים לבקרת תהליכי היצור לתעשיות המוליכים למחצה והמעגלים המודפסים, הודיעה היום על קבלת הזמנה למספר מערכות Falcon לבדיקת פרוסות שבבים מאחת מהיצרניות הגדולות בעולם של מצלמות בטכנולוגיית CMOS (CIS). במסגרת החוזה, ישולבו מערכות בדיקת השבבים של קמטק בשלב ה-back end במערך הייצור, ויסייעו ללקוח בהגדלת התפוקה.
ההזמנה, כוללת מספר מערכות Falcon לבדיקה דו-מימדית של שבבים. המערכות מתוכננות להתקנה אצל הלקוח במהלך הרבעון הראשון של 2011.
“מערכות הבדיקה של קמטק בתחום מצלמות בטכנולוגיית CMOS (CIS) ידועות בתעשייה. המערכות שלנו מאפשרות בדיקה של תת רזולוציות (Sub-resolution DetectionTM), ו לאיתור מגוון רחב של פגמים שחלו בתהליך הייצור, בכלל זה בקרת תהליך Color Filter Array לפיקסלים צבעוניים, ובכך מספקות את הבדיקה האמינה והמקיפה ביותר של פגמים קריטיים במצלמות בתפוקה גבוהה במיוחד”, אמר רועי פורת, מנכ”ל קמטק. “הפרודוקטיביות הגבוהה והטכנולוגיה המתקדמת שמציעה קמטק, הינם הבסיס ליתרוננו התחרותי בשוק ה-CIS הצומח במהירות”.
פורת הוסיף: “תחום המצלמות בטכנולוגיית CMOS חשוב מאד לעסקי מערכות הבדיקה שלנו המיועדות לשלב ה-back-end. אנו רואים צמיחה משמעותית בשוק זה הודות לביקוש עולמי הולך וגדל למכשירים חכמים, כגון טלפונים סלולריים מתקדמים, מחשבי לוח ומצלמות לתעשיית הרכב. גם לטכנולוגיה תפקיד מכריע בביקוש למערכות הבדיקה שלנו למצלמות. השימוש ההולך וגדל במצלמות ברזולוציה גבוהה יותר המצוידות בחיישני CMOS, מגדיל את הביקוש גם לציוד בדיקה לתעשייה זו. לדוגמא, בפס ייצור של מצלמות ברזולוציה של 3 מגה פיקסל נעשית בדיקה מדגמית, לעומת פסי ייצור של מצלמות של 5 מגה פיקסל בהם נעשית בדיקה של 100%. אנו מרוצים מאד ממעמדנו האיתן בשוק זה, ובכוונתנו להמשיך ולצמוח בו גם בעתיד. אנו צופים הזמנות נוספות למספר מערכות מלקוח זה במהלך 2011”.
