נובה מכשירי מדידה ספקית מובילה וחדשנית של פתרונות מדידה ואפיון חומרים לתהליכי בקרה מתקדמים עבור תעשיית המוליכים למחצה, הודיעה היום כייצרן זיכרונות מוביל באסיה, הזמין מכונתIIIVeraFlex, מערכת מדידה עצמאית בטכנולוגיית X-Ray Photoelectron Spectroscopy (XPS). הזמנה זו מתווספת לצבר הזמנות שהתקבל לאחרונה מיצרני זיכרונות מובילים. המערכות ישולבו בקווי יצור מתקדמים של שבבי זיכרון מסוג DRAM ו3D NAND.
מכונת ה- VeraFlex III XF משלבת יכולותXPS מתקדמות עם ערוץ מדידה ייחודי מסוגLE XRFכדילתתמענה מתקדם לאתגרי המטרולוגיה השונים בדורות הטכנולוגיים המתקדמים ביותר בתחומיה- Logicוה- Memory. ה-VeraFlex III XFהינה דור שלישי בסדרת מערכות ה VeraFlexאשר מוטמעות אצל מרבית יצרניה מוליכים למחצה בעולם .
“חיזוק מעמדה של נובהב קרב יצרני הזיכרונות מהווה מטרה מרכזית עבורנו ואני בטוח כיה פתרונות של ריוורה יהוו מרכיב חשוב בהגשמת מטרה זו”, אמר גלין דיוויס, נשיא ריוורה (ReVera). ” ההצלחות האחרונות שלנו ,עם קבלת מספר הזמנות מיצרני זיכרונות מובילים ,מהוות הוכחה לכך שהשוק מאמץ את פתרונותה- X-Ray המתקדמים שלנו בייצור שבביDRAMו- VNAND מורכבים. הזמנה זו מהווה עדות לצורך הגדל בשילוב מערכות מתקדמות למדידת חומרים בתהליכי הייצור המורכבים ביותר כדי לתת מענה לאתגרים השונים במהלך ייצור שבבי זיכרון“.
