Agilent Technologies הציגה התקן בדיקה חדש אשר מבוסס על מוליכים עפים (Flying leads) ומיועד לנתחי סדרת 2.0 E2960B Series המותאמים ל-PCIe. ההתקן החדש משתמש בראש הבדיקה מסוג Zero Insertion Form (ZIF) וכן בתכנון ה-Infiniimax ZIF של Agilent, אשר מאפשר למתכננים להשתמש בנקודות בדיקה זהות עבור מדידות השכבה הפיזית ועבור איתור באגים בפרוטוקולים. יכולת זו מפשטת מצבי פתרון בעיות שבהם אין ודאות אם מקור הכשל הוא בשכבה הפיזית או באינטראקציות בין פרוטוקולים.
במהירויות של PCIe 2.0, נודעת חשיבות רבה לבדיקות אמינות. ללא פתרון בדיקה אמין וללא גורם צורה מתאים, לכידת הנתונים הופכת משימה מורכבת ואף בלתי אפשרית. התקן הבדיקה מסוג ZIF של Agilent מיועד לספק אותות אמינים ומבטיח גישה נוחה בבדיקה. ראש הבדיקה קל מאוד לחיבור ומיועד להגן על מחבר הראש ולאפשר שימוש חוזר
